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日本HORIBA微型高通量光谱仪
日本HORIBA微型高通量光谱仪

微型高通量光谱仪VS20-VIS

HORIBA 为各种应用设计和制造 190 nm 至 1700 nm 的微型高通量 OEM 光谱仪。得益于低杂散光像差校正的凹面全息光栅,VS20-SYS 平台在 1.68 x 1.87 x 2 英寸的占地面积中提供了非常可靠和坚固的光谱仪。

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产品详情

微型高通量光谱仪


        HORIBA 为各种应用设计和制造 190 nm 至 1700 nm 的微型高通量 OEM 光谱仪。得益于低杂散光像差校正的凹面全息光栅,VS20-SYS 平台在 1.68 x 1.87 x 2 英寸的占地面积中提供了非常可靠和坚固的光谱仪。


        VS20 OEM 光谱仪可以在传感器、入口、狭缝尺寸、电子板、接口等方面完全定制。 


对于 OEM 工业应用

  1. 荧光

  2. 透射率和反射率

  3. 例子:

  • 半导体制程检验

  • LED测试

  • 颜色测量

  • 环境监测

  • 食品和饮料安全

 

特征

  • 非常紧凑和坚固

  • 具有成本效益的 OEM 解决方案

  • 量产能力

  • 各种波长范围 UV/VIS/VNIR/NIR

  • 低杂散光

  • 可根据客户要求定制

 

量子效率

1.jpg

2.jpg

 

OEM 光谱仪选择指南

PDA微型光谱仪VS70-PDA 1.jpg


规格

一般光谱仪规格
光谱覆盖390 – 770 nm 可根据要求扩展至 UV 或 NIR 范围
 
光谱仪分辨率<4 nm,50 μm 狭缝宽度(可提供更窄的狭缝)
光谱色散56.51 纳米/毫米(平均);0.44 纳米/像素
焦距20 毫米
选项选择不同的高级传感器:CMOS-APS*、CMOS-PPS** (PDA)、可选
CCD 可应要求提供
输入端口:SMA,可根据要求提供其他选项
F/#~ F/2.7
波长准确度<0.4 nm(使用多区域波长校准)
杂散光< 0.15%
软件用于初始评估的 LabVIEW™ 采集软件(为软件集成提供的 DLL)
可滚动
检测器选项和规格
探测器类型Hamamatsu CMOS-APS 线性图像传感器
S13014N 具有主动像素结构和全局
电子快门
其他探测器选项,
例如
具有无源像素结构的CMOS-PPS
和高达数个
100,000,000 电子和背
照式 CCD 的全阱,可
根据要求提供。
请参阅下表中的一些选项
探测器传感器格式512 x 1 像素
探测器像素尺寸14 微米 x 200 微米
检测器QE参考下图
满井容量100,000 e¯(典型值)
80,000 e¯(最小值
读出噪声16 e¯(典型值)至
20 e¯(最大值)
最大频谱率44 光谱/秒
模数转换器16位
动态范围 (FW/RN)7053:1
非线性<1%(校正后)
暗电流375 e¯/像素/秒(典型值)
500 e¯/像素/秒(最大值)
沟通USB 2
环境条件工作温度 0°C 至 40°C 环境
温度 相对湿度 <70%(非冷凝)
存储温度 -25° C 至 45° C
电源要求
AC/DC 电源(已提供)
90-264 伏交流电,47–63 赫兹
可滚动
一些 CMOS-PDA 选项(可根据要求提供其他传感器)
传感器类型S10113-256NS8378-256NS9226N-03S9227N-03
像素格式 25μm(宽)x 500μm(高)
x 256 像素
25μm(宽)x 500μm(高)
x 256 像素
7.8μm(宽)x 125μm
(高)x 1024 像素
12.5μm(宽)x 250μm
(高)x 512 像素
检测器QE参考下图


线性全井 (e-)~94M e-(典型值)~43M e-(典型值)~1.9M e-(典型值)~3M e-(典型值)
读出噪声 (e-)5200 e¯(典型值)3370 e¯(典型值)390 e-(典型值)290 e-(典型值)
根据 CMOS-PDA 选项,光谱仪外壳会略有不同
可滚动

*规格、外形尺寸和光谱仪外壳如有更改,恕不另行通知。运行我们的采集软件不需要 LabVIEW™ 许可证。
*APS代表有源像素传感器CMOS(埋入式PD,高灵敏度类似CCD)
**PPS代表被动像素传感器CMOS(表面PD,大满阱容量-取代NMOS-PDA)


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